电子零部件几何尺寸CT测量
更新时间:2024-09-25 08:00:00
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详细介绍
CT测量在产品几何尺寸测试中的应用?
CT测量满足无损的多种几何尺寸测量,包括点、线、面、平面度、圆度、圆柱度、线轮廓度、齿形、齿廓等;
CT测量在材料性能模拟中的应用?
CT测量对材料结构高准确度的还原,让研究者摆脱通过CAD建模这样的传统路径,直接运用真实的材料结构进行建模仿真,更加具有代表性和说服力,也可以和材料的其他电化学性能结合在一起进行分析,从而达到优化结构,预测性能的目的。
CT测试原理:
CT的成像原理是根据待测样品内部不同相和成分的密度以及原子系数的不同,对X射线的吸收能力有强有弱从而造成成像的明暗差别,进行不同组分的分析;X射线穿透物体,会被物体吸收,根据不同材料不同厚度的物体对X射线的吸收能力不同,利用一个X射线强度感应器(探测器),感应通过各个部位X射线强度,然后根据强度的变化转化为黑白图片(X射线强度大的颜色白,X射线强度低的颜色黑)。
样品扫描一次会旋转360°,一般每隔0.5度拍一张二维照片,一共会拍摄720张二维照片;成像detector将720张不同角度的二维照片记录下来,扫描结束后进行反向投影,进行三维重构,得到三维图形。
CT设备参数&性能:
1)灵活通用的CT系统,适用二维和三维检测;
2)使用开放式X射线管&平板数字探测器;
3)具有高功率靶,靶功率达7瓦时不散焦,标准检测分辨率<1.0um;
4)几何放大倍数达到2000倍,应该范围广;
5)独有的样品旋转及倾斜模块,样品可进行360°旋转;
6)全新FGUI软件可提供CNC自动检测,全自动完成BGA检测与Void检测;
7)专业CT软件可进行快速数据采集和三维重建。
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