DDR3眼图测试 DDR3信号完整性测试

测试 DDR 接口信号质量时，数据眼图分析有助于揭示潜在的信号完整性问题。因此，许多信号完整性工程师都使用眼图功能迅速测定 DDR 接口性能。虽然一致性测试能够根据 JEDEC 规范验证数据、地址、控制和时钟信号组的信号特性，但无法灵活、迅速地调试信号完整性问题。

眼图测试的主要挑战包括需要分离读/写周期，以及重叠数据突发的连续位，以便根据简单模板进行测试。

DDR接口的基本原理：

• 内核的频率：100MHz~266MHz，从SDR时代到DDR，再到zui新的DDR5；

• 数据速率的提升是通过I/O接口的架构设计实现的，主要有三个技术：

1) 双边沿传输数据：这是DDR名称的来源；

2) 预取技术(Prefetch): 2bit for DDR, 4bit for DDR2, 8bit for DDR3, 8bit for DDR4, 16bit for DDR5…本质上是一个串并转换技术；

3) SSTL/POD Signaling: 克服在高速传输时的信号完整性的问题。

芯片内部的一般架构：保证数据能够高速从芯片引脚输出

在上述这样一种芯片架构中，为了zui大程度的降低DRAM芯片的成本，zui省成本的方法为：

• 对于读操作，DQS与DQ为边沿对齐；

• 对于写操作，DQS与DQ为中心对齐。

DDR 眼图测试：

不同于多种其他高速接口，JEDEC DDR3 规范不需要进行眼图测试；它可用于验证信号质量，但不提供任何模板信息。DDR 读/写数据突发包括一个前置位，如果仅使用 DQS 选通校正定时，则该前置位会导致难以简单创建眼图。

在 DRAM DDR3 接口测试中，一致性测试可根据 JEDEC 标准进行互操作性基准测量。调试信号完整性问题时，需要使用模板测试、眼图工具和读/写周期分离等功能与工具协助进行分析。

启威测实验室信号完整性测试项目能力表：

启威测实验室提供DDR2/3/4/5信号完整性测试及一致性验证，更多关于DDR测试解决方案，请联系启威测实验室。